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剖析電阻器機(jī)理失效的原因

文章出處:網(wǎng)責(zé)任編輯:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2013-01-11【

  電阻器失效機(jī)理是多方面的,工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過程是引起電阻器老化的原因。以下是導(dǎo)致電阻器老是失效機(jī)理的原因分析:

  (1)、機(jī)械損傷:

  電阻的可靠很大程度上取決于電阻器的機(jī)械性能。電阻體、引線帽和引出線等均應(yīng)具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度,基體缺陷、引線帽損壞或引線斷裂均可導(dǎo)致電阻器失效。

  (2)、氣體吸附與解吸:

  膜式電阻器的電阻膜在晶粒邊界上,或?qū)щ婎w粒和黏結(jié)劑部分,總可能吸附非常少量的氣體,它們構(gòu)成了晶粒之間的中間層,阻礙了導(dǎo)電顆粒之間的接觸,從而明顯影響阻值。

  合成膜電阻器是在常壓下制成,在真空或低氣壓工作時(shí),將解吸部分附氣體,改善了導(dǎo)電顆粒之間的接觸,使阻值下降。同樣,在真空中制成的熱分解碳膜電阻器直接在正常環(huán)境條件下工作時(shí),將因氣壓升高而吸附部分氣體,使阻值增大。如果將未刻的半成品預(yù)置在常壓下適當(dāng)時(shí)間,則會(huì)提高電阻器成品的阻值穩(wěn)定性。

  溫度和氣壓是影響氣體吸附與解吸的主要環(huán)境因素。對(duì)于物理吸附,降溫可增加平衡吸附量,升溫則反之。由于氣體吸附與解吸發(fā)生在電阻體的表面。所以對(duì)膜式電阻器的影響較為顯著。阻值變化可達(dá)1%~2%。

  (3)、氧化

  氧化是長(zhǎng)期起作用的因素(與吸附不同),氧化過程是由電阻體表面開始,逐步向內(nèi)部深入。除了貴金屬與合金薄膜電阻外,其他材料的電阻體均會(huì)受到空氣中氧的影響。氧化的結(jié)果是阻值增大。電阻膜層愈薄,氧化影響就更明顯。

  防止氧化的根本措施是密封(金屬、陶瓷、玻璃等無(wú)機(jī)材料)。采用有機(jī)材料(塑料、樹脂等)涂覆或灌封,不能完全防止保護(hù)層透濕或透氣,雖能起到延緩氧化或吸附氣體的作用,但也會(huì)帶來(lái)與有機(jī)保護(hù)層有關(guān)的些新的老化因素。

  (4)、有機(jī)保護(hù)層的影響:

  有機(jī)保護(hù)層形成過程中,放出縮聚作用的揮發(fā)物或溶劑蒸氣。熱處理過程使部分揮發(fā)物擴(kuò)散到電阻體中,引起阻值上升。此過程雖可持續(xù)1~2年,但顯著影響阻值的時(shí)間約為2~8個(gè)月,為了保證成品的阻值穩(wěn)定性,把產(chǎn)品在庫(kù)房中擱置一段時(shí)間再出廠是比較適宜的。

  (5)、導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)變化:

  薄膜電阻器的導(dǎo)電膜層一般用汽相淀積方法獲得,在一定程度上存在無(wú)定型結(jié)構(gòu)。按熱力學(xué)觀點(diǎn),無(wú)定型結(jié)構(gòu)均有結(jié)晶化趨勢(shì)。在工作條件或環(huán)境條件下,導(dǎo)電膜層中的無(wú)定型結(jié)構(gòu)均以一定的速度趨向結(jié)晶化,也即導(dǎo)電材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)趨于致密化,能常會(huì)引起電阻值的下降。結(jié)晶化速度隨溫度升高而加快。

  電阻線或電阻膜在制備過程中都會(huì)承受機(jī)械應(yīng)力,使其內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生畸變,線徑愈小或膜層愈薄,應(yīng)力影響愈顯著。一般可采用熱處理方法消除內(nèi)應(yīng)力,殘余內(nèi)應(yīng)力則可能在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中逐步消除,電阻器的阻值則可能因此發(fā)生變化。

  結(jié)晶化過程和內(nèi)應(yīng)力清除過程均隨時(shí)間推移而減緩,但不可能在電阻器使用期間終止。可以認(rèn)為在電阻器工作期內(nèi)這兩個(gè)過程以近似恒定的速度進(jìn)行。與它們有關(guān)的阻值變化約占原阻值的千分之幾。

  電負(fù)荷高溫老化:任何情況,電負(fù)荷均會(huì)加速電阻器老化進(jìn)程,并且電負(fù)荷對(duì)加速電阻器老化的作用比升高溫度的加速老化后果更顯著,原因是電阻體與引線帽接觸部分的溫升超過了電阻體的平均溫升。通常溫度每升高10℃,壽命縮短一半。如果過負(fù)荷使電阻器溫升超過額定負(fù)荷時(shí)溫升50℃,則電阻器的壽命僅為正常情況下壽命的1/32。可通過不到四個(gè)月的加速壽命試驗(yàn),即可考核電阻器在10年期間的工作穩(wěn)定性。

  直流負(fù)荷—電解作用:直流負(fù)荷作用下,電解作用導(dǎo)致電阻器老化。電解發(fā)生在刻槽電阻器槽內(nèi),電阻基體所含的堿金屬離子在槽間電場(chǎng)中位移,產(chǎn)生離子電流。濕氣存在時(shí),電解過程更為劇烈。如果電阻膜是碳膜或金屬膜,則主要是電解氧化;如果電阻膜是金屬氧化膜,則主要是電解還原。對(duì)于高阻薄膜電阻器,電解作用的后果可使阻值增大,沿槽螺旋的一側(cè)可能出現(xiàn)薄膜破壞現(xiàn)象。在潮熱環(huán)境下進(jìn)行直流負(fù)荷試驗(yàn),可全面考核電阻器基體材料與膜層的抗氧化或抗還原性能,以及保護(hù)層的防潮性能。

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